IR52장영실상

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제목	[제32주 IR52 장영실상] 넥스틴 / OLED용 Array Test System
등록일	2014-08-12
내용	왼쪽부터 이광희ㆍ임종국 연구원, 김영선 부사장, 박태훈 사장. 벤처기업 넥스틴이 개발한 `유기발광다이오드(OLED)용 어레이 테스트 시스템(Array Test System)`이 2014년 제32주차 IR52 장영실상을 수상했다. `어레이 테스트 시스템`은 디스플레이 패널의 화소(Pixel) 불량을 측정하는 검사 장비로 패널 전면에 형성된 전극들의 전기적 결함을 통해 불량 화소를 가려내는 기능을 한다. OLED는 스스로 빛을 내는 현상을 이용한 디스플레이로 최근 스마트폰과 TV용에 적용되고 있다. 세계적으로 삼성전자ㆍLG전자 등 국내 업체가 주도하는 최신 산업 분야로 OLED의 불량을 검사하는 적당한 장비는 아직 개발되지 않았다. 그동안은 완성된 제품이 제대로 작동하는지 검사하기 위해 전등이 들어오는지를 확인하는 육안 검사가 고작이었다. 이 제품은 OLED용 검사장비로는 세계 최초로 개발된 장비로 OLED 제조 중간 단계에서 회로를 검사하고 불량 제품은 수리까지 가능한 것이 특징이다. 김영선 넥스틴 부사장은 "기존의 육안 검사로는 불량 여부만을 확인할 수 있지만 이 제품은 불량 위치 등 정보를 제공하며 수리까지 가능해 OLED 제조원가를 줄이고 생산성 향상에 기여할 수 있다"고 말했다. 넥스틴은 개발 초기에 액정표시장치(LCD)용 검사장비 개발을 목표로 했으나 검사장비 시장 감소와 보수 기술 제약 등으로 개발 프로젝트를 포기해야 할 위기에 처하기도 했다. 김 부사장은 "국내외 업체에서 유사 기능의 장비 개발 중에 포기한 기술을 지속적인 노력으로 극복해 개발 착수 5년여 만에 양산에 성공할 수 있었다"고 말했다. 넥스틴은 연간 200억원대의 국내 시장과 해외로도 연간 200억원어치 수출할 수 있을 것으로 기대했다.